Kiinan Nebula Cell Phone Digital Products -akkujen PCM-testijärjestelmän valmistaja ja toimittaja |Tähtisumu

Nebula Cell Phone Digital Products Battery PCM Test System

Tämä laite on suunniteltu arvioimaan nopeasti 1s- ja 2s-akkujen yksiväyläisten Li-ion-akkujen suojalevyjen perus- ja suojaominaisuudet käyttämällä IC-piiriä, joka kattaa US TI-sarjan (kuten BQ27742, BQ277410, BQ28z610, BQ27541, BQ27545, BQ27535).

OTA YHTEYTTÄ NYT

OMINAISUUDET

Yhteensopiva laajan valikoiman Gas Gauge IC:itä, joilla on suuri tarkkuus ja nopea testausnopeus.

Itsenäinen, monikanavainen modulaarinen rakenne helpottaa ylläpitoa ja vaihtoa sekä tarjoaa monipuoliset tiedon raportointiominaisuudet.

Erinomaisen tarkkuuden ansiosta se on ihanteellinen valinta vaativalle asiakkaallemme.

TEKNISET TIEDOT

Malli	BAT-NEDQ-04-V010
Parametri	Alue	Tarkkuus
Ulostulojännite	5-500 mV	±0,2 mV
Lähtövirta	0-3000mA	0,01 % RD ± 0,05 % FS
Vakiovirtalähtö	30A ~ 50A	20ms
	20A ~ 30A	±0,05 % RD ±0,02 % FS
	3A-20A	±0,01 % RD ±0,02 % FS
	5mA ~ 3000mA	±0,01 % RD ±0,02 % FS
Laturin lähtö/mittausjännite	100-5000mV	±0,01 % RD ±0,01 % FS
Laturin lähtö/mittausjännite	5000-10000mV	±0,01 % RD ±0,02 % FS