Kiina Se on nopea testauslaite, jota käytetään 1-johtimisen PCM:n perus- ja suojaominaisuuksien testeihin 1S8&2S L-ion-akuissa.Sovellettava IC sisältää TI Corporationin sarjanhallintajärjestelmät (kuten BQ27742, BQ277410 BQ28z610, BQ 27541, BQ 27545 BQ2753X).valmistaja ja toimittaja |Tähtisumu

Se on nopea testauslaite, jota käytetään 1-johtimisen PCM:n perus- ja suojaominaisuuksien testeihin 1S8- ja 2S-L-ion-akuissa.Sovellettava IC sisältää TI Corporationin sarjanhallintajärjestelmät (kuten BQ27742, BQ277410 BQ28z610, BQ 27541, BQ 27545 BQ2753X).

Se on nopea testauslaite, jota käytetään 1-johdin PCM:n perus- ja suojaominaisuuksien testeihin

1S8&2S L-ion-akuissa.Sovellettava IC sisältää TI:n sarjan ManagementIcs

Corporation (kuten BQ27742, BQ277410 BQ28z610, BQ 27541, BQ 27545 BQ2753X).

OTA YHTEYTTÄ NYT

Yhteensopiva monentyyppisten Gas Gauge IC:iden kanssa, korkea

tarkkuus ja nopea testinopeus

Kanavat toimivat itsenäisesti

säästää testiaikaa ja työvoimaa

Kanavien modulaarinen rakenne helpottaa huoltoa ja

korvaus;Rikas dataraporttitoiminto

Korkea tarkkuus

Malli	BAT-NEDQ-04-V009
Parametri	Alue	Tarkkuus
Analogisen akun lähtöjännite	50-2000mV	±(0,01 %R.D+0,019FS)
Analogisen akun lähtöjännite	2000-5000mV	±(0,019 %R.D+0,01 %FS)
Analogisen akun lähtövirta	0-3000mA	±(0,01 %R.D+0,02 %FS)
Laturin lähtö / mitattu jännite	20-5000mV	±(0,01 %R.D+0,05 %FS)
Laturin lähtö / mitattu jännite	5000-10000mV	± (0,1 % R.D + 5 mV)
Laturin lähtö / mitattu virta	20-3000mA	±(0,1 % R.D+1 mA)
Analogisen akun lähtöjännite Mittaus	50-1000mV	±(0,01 %R.D+0,1 %FS)
Analogisen akun lähtöjännite Mittaus	1000-5000mV	±(0,01 %R.D+0,01 %FS)
Analoginen akun virranmittaus (Nykyinen kulutus)	(mAtaso) 0 ~ 1000 mA	±0,01 % R.D+0,02 %FS
	(mAtaso) 1000 ~ 3000A	±0,01 % R.D+0,02 %FS
	(uA-taso) 1 ~ 2000 uA	±0,01 % R.D+1uA
	(nA taso) 20 ~ 1000 nA	±0,01 % R.D+20 nA
PACK Virran mittaus	200-10000mV	±(0,02 %R.D+0,01 %FS)