Kiinan Nebula kannettavan tietokoneen litiumakkupaketti PCM-testijärjestelmän valmistaja ja toimittaja |Tähtisumu

Nebula-kannettavan litiumpariston PCM-testijärjestelmän esittelykuva

Nebula kannettavan tietokoneen litiumpariston PCM-testijärjestelmä

Tämä on PCM-integroitu testausjärjestelmä, joka soveltuu kannettavan tietokoneen Li-ion-akkujen PCM:n perus- ja suojaominaisuuksien arvioimiseen.Sitä käytetään ensisijaisesti parametrien lataamiseen, kalibrointiin ja Texas Instrumentsin Gas Gauge IC:iden suojatoimintojen testaamiseen (BQ20Z45, BQ20Z75, BQ28Z610, BQ3050, BQ3055, BQ3060, B4, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B40Z0Q0Z5, BQ40Z0Q5 , BQ27742 ja BQ27741).

OTA YHTEYTTÄ NYT

OMINAISUUDET

Yhteensopiva Gas Gauge IC:iden kanssa, joilla on laaja valikoima ja korkea testaustarkkuus

Siinä on itsenäinen, monikanavainen modulaarinen rakenne, joka helpottaa huoltoa ja vaihtoa, sekä useita tiedonraportointitoimintoja.

Riippumattomat kanavat rinnakkaiset testaukset samanaikaisesti, nopeasti ja säästävät henkilöresursseja

TEKNISET TIEDOT

Malli	BAT-NEZ-04-V006
Parametri	Alue	Tarkkuus
Analogisen akun lähtöjännite	100-4800mV	±1 mV
Analogisen akun lähtövirta	0-500mA	±1mA
Vakiovirtalähteen lähtöjännite	0-4000mV	/
Vakiovirtalähteen lähtövirta	20A ~ 30A	±20mA
	3A-20A	±10mA
	20mA ~ 3000mA	±1mA
Analogisen akun lähtöjännitteen mittaus	100-4800mV	±1 mV
Analogisen akun lähtövirran mittaus	0-500mA	±1mA
Vakiovirtalähteen lähtöjännitteen mittaus	0-4000mV	/
Vakiovirtalähteen lähtövirran mittaus	20A ~ 30A	±10mA
	3A-20A	5 mA
	20mA ~ 3000mA	±1mA